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澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業領域微觀分析的重要工具。該系列產品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優勢，覆蓋了從基礎研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項自主創新技術，例如真空分隔技術，通過電子槍與樣品倉的真空分離設計，顯著縮短換樣時間，同時支持高真空與低真空模式。
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