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透射電鏡原位加熱/電學樣品桿,基于MEMS原位芯片技術,通過更換多種類型的加熱芯片或電學芯片,在透射電鏡中實現對樣品加熱或加電的原位功能。透射電鏡樣品桿的分類1、氣氛桿:氣氛桿能夠突破現有透射電鏡對于真空度要求的限制,在一個*封閉的氣體系統中,研究透射電鏡內的氣相反應過程,如高分辨下觀察催化劑與氣體的反應情況。并結合控溫模塊,能夠在特定的壓力和溫度下動態的,實時的觀察原子級別的固氣反應。同時,該樣品桿可以真正在透射電鏡中進行密閉腔室的EDS元素分析。可用氣體種類:氫氣、氮氣、氧氣、氬氣、氨氣等多
查看更多常見的掃描電鏡電子槍陰極有哪幾種?電子槍的作用是發射出作為電鏡照明用的電子源,所以說電子槍是整臺電鏡很重要的部件,其性能的優劣決定著電鏡圖像質量的高低,商品電鏡的分辨力主要受電子槍的亮度所制約。普及型掃描電鏡用的是鎢陰極電子槍,其陰極材料是用直徑為0.12~0.2mm的鎢絲制作成發夾(V)形或針尖(Y)形狀,并通過電流直接加熱來發射電子的,它是一種常用的陰極。相對來說,“Y”形比“V”形的發射束流密度更大一些,亮度也更亮一些,但發射的總束流“Y”形比“V”形的要小一些,束流的...
了解更多掃描電鏡一種新型的電子光學儀器。它具有制樣簡單、放大倍數可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點。數十年來,掃描電鏡已廣泛地應用在生物學、醫學、冶金學等學科的領域中,促進了各有關學科的發展。在進行掃描電鏡觀察前,要對樣品作相應的處理。掃描電鏡樣品制備的主要要求是:盡可能使樣品的表面結構保存好,沒有變形和污染,樣品干燥并且有良好導電性能。樣品的初步處理(一)取材掃描電鏡來說,樣品可以稍大些,面積可達8mm×8mm,厚度可達5mm。對于掃描電鏡易卷曲的樣品如血管、胃腸道粘膜等,可...
了解更多臺式掃描電鏡噴金是為了什么?我們知道掃描電子顯微鏡(SEM)的樣品處理的要求中有一個是,樣品表面一定要導電。在大多數情況下,初級電子束電荷數量都大于背散射電子和二次電子數量之和,因此多余的電子須導入地下,即樣品表面電位須保持在0電位。如果樣品表面不導電,或者樣品接地線斷裂,那么樣品表面靜電荷存在,使得表面負電勢不斷增加,出現充電效應,使圖像畸變,入射電子束減速,此時樣品如同一個電子平面鏡。非導電樣品絕緣電阻大,在電子束掃描下,樣品表面逐漸積累負電荷,排斥入射電子,二次電子發射...
了解更多sem電子掃描電鏡具有制樣簡單、放大倍數可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大、保真度高、有真實的三維效應等特點,對于導電材料,可直接放入樣品室進行分析,對于導電性差或絕緣的樣品則需要噴鍍導電層。從結構上看,主要由七大系統組成,即電子光學系統、信號探測處理和顯示系統、圖像記錄系統、樣品室、真空系統、冷卻循環水系統、電源供給系統。下面來了解下sem電子掃描電鏡的各組成部件特點:1、信號探測處理和顯示系統電子經過一系列電磁透鏡成束后,打到樣品上與樣品相互作用,會產生二次電子、背散射電...
了解更多為提高掃描電鏡圖像的分辨力,常采用的途徑和方式有下列幾種。(1)在物鏡的極靴附近加設一個特殊的附加靜電裝置(ElectrostaticsServes),用來同時匯集一次電子并提取二次電子,再加上物鏡頂部環形探測器接收的面積大,靈敏度高,在短工作距離下能明顯改善圖像的信噪比和提高分辨力。(2)采用透鏡內(In-lens)探測器或安裝在物鏡上方的探測器(TLD-SED),都能明顯改善低加速電壓和短工作距離時的圖像信噪比和分辨力。在WD較小時,不僅可以減小物鏡球差和消除傳統E-T探...
了解更多澤攸ZEM15臺式掃描電鏡在自動對焦、自動亮度對比度控制等方面,操作都很簡單,此外,有減速模式可供用戶選擇。對一些導電性不好的樣品,不需做噴金處理就可獲得較高的分辨率和較好的圖像質量,減速模式在保證圖像分辨率的同時,克服了樣品荷電效應的負面影響。澤攸ZEM15臺式掃描電鏡全新的GUI界面,操作界面簡明易懂,操控按鍵形象直觀。未來會跟大家見面的觸摸屏界面會更加人性化,觸摸式操作加直觀方便,雙畫面顯示,可以并列顯示實時圖像和儲存圖像,能一邊比較圖像一邊進行觀察。下面我們來看看使用...
了解更多臺式掃描電子顯微鏡掃描速度快,信號采集帶寬10M,可以在視頻模式下流暢實時的顯示樣品。只需鼠標就可完成所有操作,不需對中光闌等復雜步驟,聚焦消像散后可直接拍圖。臺式掃描電子顯微鏡采用高集成度電子光學系統設計和附件集成方案,使拍攝圖片具有更高的信噪比和對比度,同時也具有更強的抗干擾能力。配合很高的信號采集帶寬,可以在視頻幀率下高質量的流暢顯示樣品。只需鼠標就可完成所有操作,無需光闌對中等復雜步驟。主機集成高壓及控制系統,是目前市面上體積較小的掃描電鏡,便于移動,安裝無需特殊環境...
了解更多SEM掃描電鏡的工作原理為:在高真空的鏡筒中,由電子槍產生的電子束經電子會聚透鏡聚焦成細束后,在樣品表面逐點進行掃描轟擊,產生一系列電子信息(二次電子、背反射電子、透射電子、吸收電子等),由探測器將各種電子信號接收后經電子放大器放大后輸入顯像管。SEM掃描電鏡在觀測樣品時要滿足什么樣的條件?①形貌結構形態,要耐高真空SEM掃描電鏡是一種用電子束掃描物體表面的成像技術。空氣的存在會使電子束變形,影響掃描效果,所以樣品需要能夠承受高真空。②樣品表面導電樣品表面要導電,如果導電性比...
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