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原位MEMS加熱/電學樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設計的實驗工具，旨在滿足納米材料、能源科學及電子器件研究領域對原位動態表征的需求。該系列產品基于標準外形的透射電鏡樣品桿，通過集成MEMS芯片技術，實現了對單個納米結構的精確溫度調控和電學測量功能。在實驗過程中，用戶不僅可以對樣品進行可控加熱，還能實時監測其電學特性，同時結合透射電鏡及相關附件。
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